국제표준 뉴스목록
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인터커넥터(Interconnector), 유럽 에너지의 중추 역할을 하다현재 유럽과 그 이상의 지역에서 전력 거래를 돕는 인터커넥터가 400개가 넘게 존재하고 있다. 이러한 구조물들은 재생 가능 에너지 원천을 키우려는 국가들에게 매우 중요한 역할을 하고 있다. 특히 풍력, 태양 에너지와 같은 주요 재생 가능 원천은 일정하게 공급되지 않기 때문에, 안정된 전기 공급을 유지하는 것은 어려운 과제이다. 이러한 원천의 간헐성은 전력 그리드의 변동과 잠재적인 정전을 초래할 수 있으므로, 그리드를 균형있게 유지하는 새로운 해결책이 필요하다. 산업용 배터리 시설과 저장 기술 또한 한가지 해결책이 될 수 있지만, 인터커넥터는 비용 효율적인 측면에서 더 나은 대안을 제공한다. 이러한 구조물들은 그리드 간 전기가 원활하게 이동할 수 있도록 도와주며, 국내외 전력 공급을 교환하도록 만들 수 있다. 실제로 덴마크, 독일, 영국 등의 국가들은 재생 가능 에너지 자원을 효과적으로 공유하기 위해 인터커넥터를 설치해오고 있다. 더불어 수소는 그리드 균형 조절을 위한 대안으로 떠오르고 있다. 수소의 저장 능력을 활용하면 과잉 전기를 전해 분해를 통해 수소로 변환할 수 있다. 이렇게 생산된 수소는 필요할 때 다시 전기로 변환되어 전력 공급을 지원하며, 그리드의 안정성을 유지한다. 국제적인 표준화 노력은 이러한 기술들의 효율성과 안전성을 보장하는 데 중요한 역할을 한다. 국제 전기 기술 위원회(IEC)가 수립한 국제 표준은 스마트 그리드 기술과 수소 저장을 위한 연료 전지 기술과 같은 에너지 생성, 전송, 저장의 다양한 측면을 다룬다. 또한 IECEx와 같은 기관이 제공하는 인증은 수소와 관련된 장비의 안전한 사용을 보장한다. 유럽이 친환경 에너지로의 전환을 계속하면서, 인터커넥터는 고급 저장 기술, 국제 표준과 함께 신뢰할 수 있고 지속 가능한 전기를 공급하는데 핵심적인 역할을 할 것으로 예상된다.
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[특집-기술위원회] TC 202 - 미세선속 분석(Microbeam analysis)스위스 제네바에 본부를 두고 있는 국제표준화기구(ISO)에서 활동 중인 기술위원회(Technical Committeee, TC)는 TC 1~TC 323까지 구성돼 있다.기술위원회의 역할은 기술관리부가 승인한 작업범위 내 작업 프로그램 입안, 실행, 국제규격의 작성 등이다. 또한 산하 분과위원회(SC), 작업그룹(WG)을 통해 기타 ISO 기술위원회 또는 국제기관과 연계한다.ISO/IEC 기술작업 지침서 및 기술관리부 결정사항에 따른 ISO 국제규격안 작성·배포, 회원국의 의견 편집 등도 처리한다. 소속 분과위원회 및 작업그룹의 업무조정, 해당 기술위원회의 회의 준비도 담당한다.1947년 최초로 구성된 나사산에 대한 TC 1 기술위원회를 시작으로 순환경제를 표준화하기 위한 TC 323까지 각 TC 기술위원회의 의장, ISO 회원, 발행 표준 및 개발 표준 등에 대해 살펴볼 예정이다.이미 다룬 기술위원회와 구성 연도를 살펴 보면 △1947년 TC 1~TC 67 △1948년 TC 69 △1949년 TC 70~72 △1972년 TC 68 △1950년 TC 74 △1951년 TC 76 △1952년 TC 77 △1953년 TC 79, TC 81 △1955년 TC 82, TC 83 △1956년 TC 84, TC 85 △1957년 TC 86, TC 87, TC 89 △1958년 TC 91, TC 92 △1959년 TC 94 △1960년 TC 96, TC 98 △1961년 TC 101, TC 102, TC 104 등이다.또한 △1962년 TC 105~TC 107 △1963년 TC 108~TC 111 △1964년 TC 112~TC 115, TC 117 △1965년 TC 118 △1966년 TC 119~TC 122 △1967년 TC 123 △1968년 TC 126, TC 127 △1969년 TC 130~136 △1970년 TC 137, TC 138, TC 142, TC 145 △1971년 TC 146, TC 147, TC 148, TC 149, TC 150, TC 153 △1972년 TC 154 △1973년 TC 155 △1974년 TC 156~TC 161 △1975년 TC 162~TC 164 등도 포함된다.그리고 △1976년 TC 165, TC 166 △1977년 TC 167, TC 168, TC 170 △1978년 TC 171, TC 172, TC 173, TC 174 △1979년 TC 176, TC 178 △1980년 TC 180, TC 181 △1981년 TC 182 △1983년 TC 183~TC 186 △1984년 TC 188 △1985년 TC 189, TC 190, TC 191 △1988년 TC 192~TC 194 △1989년 TC 195 △1990년 TC 197, TC 198 등이 있다.ISO/TC 202 미세선속 분석(Microbeam analysis)과 관련된 기술위원회는 TC 199, TC 201와 마찬가지로 1991년 결성됐다. 사무국은 중국 국가표준화관리위원회(国家标准化管理委员会, Standardization Administration of the P. R. C, SAC)에서 맡고 있다.위원회는 닝 자오(Mr Ning Zhao)가 책임지고 있다. 현재 의장은 지앙 자오(Mr Jiang Zhao)이며 임기는 2024년말 까지다.ISO 기술 프로그램 관리자는 스테판 소바(M Stéphane Sauvage), ISO 편집 관리자는 아룬 ABY 파라에카티(Mr Arun ABY Paraecattil) 등이다.범위는 입사빔으로 전자를 사용하고 감지 신호로 전자와 광자를 사용하는 마이크로빔 분석(측정, 매개변수, 방법 및 기준 물질) 분야의 표준화다.참고로 고체재료의 구성 및 구조적 특성을 분석하는 것이 목적이다. 분석량은 일반적으로 최대 10마이크로미터의 깊이와 100제곱마이크로미터 미만의 표면적을 포함한다.현재 ISO/TC 202 사무국과 관련해 발행된 표준은 30개며 ISO/TC 202 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준은 9개다.ISO/TC 202 사무국과 관련해 개발 중인 표준은 5개다. 참여하고 있는 회원은 9개국, 참관 회원은 13개국이다.□ ISO/TC 202 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준 9개 목록▷ISO 5820:2024 Microbeam analysis — Hyper-dimensional data file specification (HMSA)▷ISO 13067:2020 Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size▷ISO 15632:2021 Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use with a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA)▷ISO 20720:2018 Microbeam analysis — Methods of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS▷ISO 22029:2022 Microbeam analysis — EMSA/MAS standard file format for spectral-data exchange▷ISO 22309:2011 Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above▷ISO 23703:2022 Microbeam analysis — Guidelines for misorientation analysis to assess mechanical damage of austenitic stainless steel by electron backscatter diffraction (EBSD)▷ISO 23749:2022 Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Quantitative determination of austenite in steel▷ISO 24173:2024 Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction□ ISO/TC 202 사무국 분과위원회(Subcommittee)의 책임 하에 발행 및 개발 중인 표준 현황▷ISO/TC 202/SC 1 Terminology ; 발행된 표준 3개, 개발 중인 표준 1개▷ISO/TC 202/SC 2 Electron probe microanalysis ; 발행된 표준 8개, 개발 중인 표준 1개▷ISO/TC 202/SC 3 Analytical electron microscopy ; 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 3개▷ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy ; 발행된 표준 4개, 개발 중인 표준 0개
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전 세계 생체인식 기술 보안 강화의 필요성 대두되다전 세계 경제에 미칠 사이버 공격 비용은 올해 약 10조 달러로 추정된다. 이로 인해 사이버 보안 전문가의 부족 문제가 대두되고 있으며, 시스템 및 장치 보호의 필요성이 더욱 증가하고 있다. 고유한 생체 특성을 활용하여 정확한 개인 식별과 인증을 지원하는 생체인식 기술은 더욱 더 중요해지고 있다. 하지만 이러한 기술도 충분한 보안 매커니즘이 없다면 사이버 공격의 대상이 되기 쉽다. 이러한 문제에 대응하여, ISO/IEC 30107은 프레젠테이션 어택 탐지(Presentation Attack Detection, PAD) 메커니즘의 성능 평가와 결과 보고를 위한 국제 표준으로 채택되고 있다. 이 중 ISO/IEC 30107-4는 모바일 장치에 특화된 PAD 성능 평가 요구 사항을 제공하여 모바일 기기의 보안 강화에 기여하고 있다. 최신 업데이트에서는 Fast IDentity Online(FIDO) 생체 인식과 관련된 요구 사항이 추가되었다. FIDO 얼라이언스는 비밀번호 의존도를 줄이기 위한 보안 사양을 개발하고 촉진하는 데 중요한 역할을 하고 있다. 위 표준은 상호 운용성과 데이터 교환을 지원하기 위해 개발되었으며, 생체 인식 기술의 사이버 보안 측면과 윤리적 측면도 함께 고려되고 있다. 이는 현재의 사이버 보안 환경에서 지속적인 발전과 보호를 위해 중요한 움직임으로 평가된다.
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[기획 디지털 ID 정책] 3. 세계경제포럼(World Economic Forum)의 디지털 ID 정책세계경제포럼(World Economic Forum, WEF)은 개인의 개인 정보 보호 및 안전하고 신뢰할 수 있는 식별 방법을 제공할 수 있는 디지털 ID 시스템 개발에 목표를 두고 있다.인간의 신원 추적을 위해 생체 인식 기술을 도입하는 방안을 고려하고 있으며 블록체인(Blockchain) 기반 디지털 ID 플랫폼을 연구중이다.이를 위해 지문 및 얼굴 특징 등을 사용하는 시스템을 구축하고 개인을 정확하게 식별할 수 있도록 시스템을 구현하기 위해 노력하고 있다.WEF는 스웨덴 생체인식 기업인 핑거프린트카드(Fingerprint Cards)와 파트너십 구축을 통해 디지털 ID 시스템 개발 및 구현에 앞장을 서고 있다.WEF는 2023년 6월 디지털 ID 재구상-통찰력 보고서(Reimagining Digital ID, Insight Report)를 발간하기도 했다.△ID 개요 △분산ID △구현 장벽 △추천 등으로 구성돼 있다. 구현 장벽 및 추천 카테고리는 기술과 정책, 거버넌스 및 구현에 대한 내용으로 구성됐다.
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[특집-기술위원회] TC 201 - 표면 화학 분석(Surface chemical analysis)스위스 제네바에 본부를 두고 있는 국제표준화기구(ISO)에서 활동 중인 기술위원회(Technical Committeee, TC)는 TC 1~TC 323까지 구성돼 있다.기술위원회의 역할은 기술관리부가 승인한 작업범위 내 작업 프로그램 입안, 실행, 국제규격의 작성 등이다. 또한 산하 분과위원회(SC), 작업그룹(WG)을 통해 기타 ISO 기술위원회 또는 국제기관과 연계한다.ISO/IEC 기술작업 지침서 및 기술관리부 결정사항에 따른 ISO 국제규격안 작성·배포, 회원국의 의견 편집 등도 처리한다. 소속 분과위원회 및 작업그룹의 업무조정, 해당 기술위원회의 회의 준비도 담당한다.1947년 최초로 구성된 나사산에 대한 TC 1 기술위원회를 시작으로 순환경제를 표준화하기 위한 TC 323까지 각 TC 기술위원회의 의장, ISO 회원, 발행 표준 및 개발 표준 등에 대해 살펴볼 예정이다.이미 다룬 기술위원회와 구성 연도를 살펴 보면 △1947년 TC 1~TC 67 △1948년 TC 69 △1949년 TC 70~72 △1972년 TC 68 △1950년 TC 74 △1951년 TC 76 △1952년 TC 77 △1953년 TC 79, TC 81 △1955년 TC 82, TC 83 △1956년 TC 84, TC 85 △1957년 TC 86, TC 87, TC 89 △1958년 TC 91, TC 92 △1959년 TC 94 △1960년 TC 96, TC 98 △1961년 TC 101, TC 102, TC 104 등이다.또한 △1962년 TC 105~TC 107 △1963년 TC 108~TC 111 △1964년 TC 112~TC 115, TC 117 △1965년 TC 118 △1966년 TC 119~TC 122 △1967년 TC 123 △1968년 TC 126, TC 127 △1969년 TC 130~136 △1970년 TC 137, TC 138, TC 142, TC 145 △1971년 TC 146, TC 147, TC 148, TC 149, TC 150, TC 153 △1972년 TC 154 △1973년 TC 155 △1974년 TC 156~TC 161 △1975년 TC 162~TC 164 등도 포함된다.그리고 △1976년 TC 165, TC 166 △1977년 TC 167, TC 168, TC 170 △1978년 TC 171, TC 172, TC 173, TC 174 △1979년 TC 176, TC 178 △1980년 TC 180, TC 181 △1981년 TC 182 △1983년 TC 183~TC 186 △1984년 TC 188 △1985년 TC 189, TC 190, TC 191 △1988년 TC 192~TC 194 △1989년 TC 195 △1990년 TC 197, TC 198 등이 있다.ISO/TC 201 표면 화학 분석(Surface chemical analysis)과 관련된 기술위원회는 TC 199와 마찬가지로 1991년 결성됐다. 사무국은 일본 산업표준조사회(日本産業標準調査会, Japanese Industrial Standards Committee, JISC)에서 맡고 있다.위원회는 사토시 곤다(Dr Satoshi Gonda)가 책임지고 있다. 현재 의장은 히데히코 노나카(Dr Hidehiko Nonaka)이다.ISO 기술 프로그램 관리자는 주안우 주(Ms Chuanyu Zou), ISO 편집 관리자는 아룬 ABY 파라에카티(Mr Arun ABY Paraecattil) 등이다.범위는 표면 화학 분석 분야의 표준화다. 표면 화학 분석에는 전자, 이온, 중성 원자 또는 분자, 광자의 빔이 시료 재료에 입사되어 산란되거나 방출된 전자, 이온, 중성 원자 또는 분자, 광자가 감지되는 분석 기술이 포함된다.또한 표면 위로 스캔하는 조사 및 표면 관련 신호를 감지하는 기술도 포함하지만 ISO/TC 202의 범위 내에 있는 주사전자현미경은 제외한다.참고로 현재 표면 화학 분석 기술을 사용하면 분석 정보는 표면에서 가까운 영역(일반적으로 20 nm 이내)의 정보를 얻을 수 있다. 분석 정보 대비 깊이 데이터(analytical information-versus-depth data)는 더 깊은 표면 분석 기술을 사용해 얻을 수 있다.현재 ISO/TC 201 사무국과 관련해 발행된 표준은 81개며 ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준은 8개다.ISO/TC 201 사무국과 관련해 개발 중인 표준은 22개며 ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 개발 중인 표준은 2개다. 참여하고 있는 회원은 13개국, 참관 회원은 12개국이다.□ ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 발행된 표준 8개 목록▷ISO 14706:2014 Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy▷ISO 16413:2020 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting▷ISO 17331:2004 Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy▷ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1▷ISO 18337:2015 Surface chemical analysis — Surface characterization — Measurement of the lateral resolution of a confocal fluorescence microscope▷ISO/TS 18507:2015 Surface chemical analysis — Use of Total Reflection X-ray Fluorescence spectroscopy in biological and environmental analysis▷ISO/TR 19693:2018 Surface chemical analysis — Characterization of functional glass substrates for biosensing applications▷ISO 24465:2023 Surface chemical analysis — Determination of the minimum detectability of surface plasmon resonance device□ ISO/TC 201 사무국의 직접적인 책임 하에 개발 중인 표준 2개 목록▷ISO/AWI TR 4550 SCA –Surface chemical analysis of bacteria and biofilms▷ISO/FDIS 23124 Surface chemical analysis — Measurement of lateral and axial resolutions of a Raman microscope□ ISO/TC 201 사무국 분과위원회(Subcommittee)의 책임 하에 발행 및 개발 중인 표준 현황▷ISO/TC 201/SC 1 Terminology ; 발행된 표준 3개, 개발 중인 표준 0개▷ISO/TC 201/SC 2 General procedures ; 발행된 표준 9개, 개발 중인 표준 2개▷ISO/TC 201/SC 3 Data management and treatment ; 발행된 표준 5개, 개발 중인 표준 1개▷ISO/TC 201/SC 4 Depth profiling ; 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 0개▷ISO/TC 201/SC 6 Secondary ion mass spectrometry ; 발행된 표준 12개, 개발 중인 표준 2개▷ISO/TC 201/SC 7 Electron spectroscopies ; 발행된 표준 23개, 개발 중인 표준 5개 ▷ISO/TC 201/SC 8 Glow discharge spectroscopy ; 발행된 표준 6개, 개발 중인 표준 3개▷ISO/TC 201/SC 9 Scanning probe microscopy ; 발행된 표준 8개, 개발 중인 표준 4개▷ISO/TC 201/SC 10 X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis ; 발행된 표준 1개, 개발 중인 표준 3개
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